问题描述：主控型号是stm32l496，这一部分电阻没用你们给的10k用的43k，这个我找别人测试 说是通信没通上，硬件电路问题么，总线没响应，我有点没懂就是spi通信不上！
问题分析：针对SPI通信问题，结合电阻值更换的情况，以下是可能的原因及解决步骤：
上拉/下拉电阻：若43k电阻用于SPI信号线（SCK、MOSI、MISO、CS）的上拉或下拉：
问题：43k阻值过大，可能导致信号边沿（上升/下降时间）过慢，尤其在高速SPI模式下无法满足时序要求。
建议：SPI通常需要较强驱动能力，上拉电阻推荐4.7k~10k。尝试换回10k电阻或选择更小阻值。
分压/限流电阻：若电阻用于其他用途（如电平转换、分压供电），需验证分压后电压是否满足从设备需求。
信号完整性测试：
信号幅值是否达标（如3.3V或5V）。
上升/下降时间是否过快或过慢（通常应 < 10%时钟周期）。
是否存在噪声或畸变。
用示波器测量SCK、MOSI、CS信号波形，检查：
连接检查：
确认SPI线路（SCK、MOSI、MISO、CS）无短路、断路或虚焊。
确保从设备电源稳定，地线连接良好。
片选信号（CS）：
检查CS引脚是否在通信时被正确拉低/释放。
确认CS信号是否因电阻值改变导致电平异常。
SPI参数匹配：
检查STM32的SPI配置（时钟频率、CPOL、CPHA）是否与从设备要求一致。
降低时钟频率（如从10MHz降至1MHz），测试是否因电阻导致高速通信失败。
GPIO模式：
确认SPI引脚配置为正确的复用功能模式（AF模式），非普通GPIO。
验证推挽输出（PP）或开漏（OD）模式是否适用当前电路。
换回10k电阻：临时替换为原10k电阻，测试通信是否恢复，以确认是否为电阻值问题。
最小系统测试：断开无关外设，仅保留SPI主从设备，排除其他干扰。
从设备初始化：确保从设备已正确上电并初始化（如需要配置寄存器）。
中断冲突：检查是否有中断信号未正确处理，导致通信流程阻塞。
ESD/过压损坏：若更换电阻前曾带电操作，检查芯片或从设备是否损坏。
电阻值替换影响：
信号边沿变缓：43k阻值过大，上升/下降时间延长，无法满足高速SPI时序要求。
驱动能力不足：高阻值上拉可能导致信号电平无法快速切换，尤其在长走线或高容性负载时。
若将SPI信号线（如SCK、MOSI、CS）的上拉电阻从10k改为43k，可能导致：
文件内容分析：
您提供的文件包含大量电阻列表（如R1~R500+），但缺少具体连接信息，无法直接关联到SPI线路。
存在重复电阻编号（如R553）、格式混乱，需确认电路图的准确性。
硬件检查：
使用示波器测量SCK、MOSI、CS波形，观察上升/下降时间是否在允许范围内（通常需小于时钟周期的10%）。
检查信号幅值（3.3V或匹配从设备电平）。
确认电阻位置：找到SPI总线（SCK、MOSI、MISO、CS）上的电阻，检查是否为上拉/下拉电阻。
替换回10k电阻：临时换回原设计值，测试通信是否恢复，以验证是否为电阻值问题。
检查信号完整性：
电路连接验证：
确保SPI引脚连接正确（主从设备的SCK、MOSI、MISO交叉连接，CS独立控制）。
检查NAND Flash的电源（VCC_3V3）和地（GND）是否稳定，避免电压跌落。
软件配置：
降低SPI时钟频率：尝试将时钟从高频（如10MHz）降至低频（1MHz），观察是否因电阻导致高速通信失败。
匹配CPOL/CPHA：确保STM32与NAND Flash的时钟极性和相位配置一致。
GPIO模式：确认SPI引脚配置为复用功能模式（AF），非普通GPIO。
排查其他可能性：
虚焊或短路：检查SPI线路和电阻焊点是否接触良好。
从设备损坏：尝试更换NAND Flash芯片，排除硬件损坏可能。
提供完整电路图：若电阻列表无法明确关联SPI线路，需提供具体的SPI相关电路部分，尤其是电阻连接方式。
检查NAND Flash初始化：确保从设备已正确初始化（如发送复位命令、配置寄存器）。
ESD防护：检查是否因静电放电导致芯片损坏。
根本原因可能是43k电阻导致信号时序不满足要求。建议优先换回10k电阻并测试信号波形，同时验证软件配置。
