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如何使用示波器查看SDNAND的波形?

SD NAND-贴片式TF卡-贴片式SD卡-免费测试2025-06-1912

使用示波器查看 SDNAND 波形是硬件调试的关键步骤,需从接口定义、探头配置到波形解析全流程规范操作。以下是详细的实操指南,结合 SD 协议电气特性与故障定位需求展开:

一、硬件准备与接口定义

1. SDNAND 接口引脚说明(以标准 SD 接口为例)

引脚名称功能描述示波器测量重点
CLK时钟信号(最高 25MHz/50MHz)频率稳定性、占空比、抖动
CMD命令 / 响应通道命令包格式、CRC 校验位波形
DATA0-3数据传输通道数据块波形、位传输完整性
VDD电源(通常 3.3V 或 1.8V)电压纹波、跌落瞬态
GND接地参考电位稳定性

2. 必备工具与连接要求

  • 示波器选型:带宽≥100MHz(SD 高速模式时钟 50MHz,需 5 倍带宽采样),采样率≥1GSa/s。

  • 探头选择

    • 无源探头(10:1):用于 CLK/CMD/DATA 信号(阻抗匹配 50Ω 或 100Ω)。

    • 差分探头:用于高精度电源纹波测量(VDD 波动≤50mV)。

  • 辅助工具

    • 接地弹簧环(替代长地线,减少高频噪声)。

    • 逻辑分析仪(可选,同步分析多通道时序)。

二、示波器关键设置步骤

1. 基础参数配置


1. **通道设置**:
   - 耦合方式:AC(用于时钟/数据信号)或DC(用于电源信号)。
   - 带宽限制:测量时钟时开启20MHz带宽(滤除高频噪声),测高速数据时关闭。
   - 探头衰减:设为10X,示波器输入阻抗设为1MΩ||15pF。

2. **触发设置**:
   - 触发源:选择CLK通道(边沿触发)。
   - 触发电平:设为1.65V(3.3V系统的中点),斜率选“上升沿”。
   - 触发模式:正常模式(Normal),避免误触发。

3. **采样设置**:
   - 采样模式:实时采样(Real Time),存储深度设为1M点以上。
   - 时基:测时钟设为100ns/div,测数据块设为10μs/div。

2. 电源纹波专项测量

  • 设置要点

    1. 探头接地使用弹簧环(长度 < 5mm),直接连接 VDD 和 GND 引脚。

    2. 示波器开启 “纹波” 测量功能,带宽限制 20MHz(滤除开关电源高频噪声)。

    3. 采样时间设为 100ms,观察读写操作时的电压跌落(如从 3.3V 降至 3.1V 以下为异常)。

三、典型波形测量流程

1. 时钟信号(CLK)测量

  1. 连接探头:探头正极接 CLK 引脚,接地弹簧环接就近 GND。

  2. 正常波形特征

    • 频率稳定:25MHz 时钟周期为 40ns(误差≤500ppm)。

    • 占空比:50%±5%,上升 / 下降沿时间 < 5ns(10%-90%)。

    • 抖动:峰峰值≤1ns(RMS 抖动≤100ps)。

  3. 异常判断

    • 频率跳变:可能是晶振负载电容不匹配(如标称 20pF 但实际用 33pF)。

    • 占空比偏移:主机控制器时钟分频电路故障。

2. 命令信号(CMD)测量

  1. 触发配置

    • 触发条件:CMD 线出现 0x40(CMD0,复位命令)的上升沿。

  2. 正常命令包结构

[起始位(1低电平)] + [命令字节(8bit)] + [参数(32bit)] + [CRC7] + [结束位(1高电平)]

    • 示例:CMD16(设置块大小)波形应为:0x40 0x10 0x00 0x00 0x00 0x02 0x95(CRC)。

  1. 异常排查

    • 命令包 CRC 错误:波形中 CRC 位出现跳变异常,可能是信号干扰或硬件 CRC 计算错误。

3. 数据信号(DATA)测量

  1. 多通道同步测量(若示波器支持):

    • 同时接入 DATA0-DATA3,触发源设为 CLK,观察 4 位数据并行传输。

  2. 数据块波形特征

    • 数据传输帧结构:[起始位] + [512 字节数据] + [CRC16] + [结束位]。

    • 有效数据期:DATA 线在 CLK 上升沿时稳定(建立时间≥5ns,保持时间≥5ns)。

  3. 丢帧关联点

    • 数据位跳变时伴随毛刺:可能是排线串扰(如 DATA0 与 DATA1 间距 < 1mm)。

    • 数据块间隔异常延长:主机控制器 DMA 缓冲区满,导致 SDNAND 超时丢帧。

四、波形分析与故障定位

1. 基于波形的丢帧原因判断

波形异常现象可能故障点解决方案
CLK 周期突然延长 20% 以上晶振受温度影响或负载电容漂移更换工业级晶振,匹配 20pF 电容
CMD 响应时间 > 50ms(标准≤20ms)SDNAND 内部忙(如擦除操作未完成)增加命令重试机制,优化读写调度
DATA 信号眼图闭合信号完整性问题(阻抗不匹配)检查 PCB 走线阻抗(50Ω±10%),缩短排线
VDD 读写时跌落 > 100mV电源内阻过大(如 LDO 输出电流不足)更换大电流 LDO,电源路径加 100μF 钽电容

2. 高级分析技巧

  • 使用 FFT 功能:对 CLK 信号做频谱分析,若出现 25MHz 以外的强谐波(如 50MHz、75MHz),说明时钟质量差。

  • 波形模板测试:导入 SD 协会规范的波形模板(如 JESD84-B51),示波器自动检测是否超标。

五、操作注意事项

  1. 防静电与防短路

    • 测量前佩戴防静电手环,探头金属部分避免触碰相邻引脚。

    • 电源测量时,差分探头正负极不可接反(否则烧毁探头)。

  2. 探头接地优化

    • 抛弃传统鳄鱼夹地线(长地线等效电感≈1μH/m,引入高频振荡),改用接地弹簧环(电感 < 1nH)。

    • 示例:将弹簧环一端焊在 PCB GND 过孔上,另一端套在探头接地针上。

  3. 长时间监测设置

    • 开启示波器 “余辉” 模式(Persist),持续观察数小时,捕捉偶发的波形异常(如每小时一次的 CLK 抖动突变)。

六、实战案例:某 SDNAND 丢帧的波形定位

  • 现象:视频录制时每 10 分钟丢 1 帧,示波器测量发现:

    1. CLK 信号在丢帧时刻出现周期性抖动(抖动从 100ps 突增至 5ns)。

    2. 抖动周期与主板 CPU 散热风扇转速一致(10 分钟启动一次)。

  • 结论:风扇启动时的电磁干扰耦合到 CLK 线,导致 SD 协议时序错误。

  • 解决:CLK 线加屏蔽层,风扇电源加 LC 滤波,抖动降至 200ps 以下,丢帧消失。

通过上述步骤,可将 SDNAND 的电气层问题直观呈现在波形中,结合协议规范快速定位硬件故障,为后续整改提供数据支撑。

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