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如何使用逻辑分析仪查看SDNAND的波形?

SD NAND-贴片式TF卡-贴片式SD卡-免费测试2025-06-1911

使用逻辑分析仪查看 SDNAND 波形的步骤可分为硬件连接、参数配置、触发设置、数据捕获及分析等环节,以下是详细操作指南及注意事项:

一、硬件连接准备

1. 确认 SDNAND 接口类型与引脚定义

  • 常见接口类型:SPI、SDIO、eMMC 等,不同接口的信号引脚不同(以 SPI 为例):

    • SCLK(时钟信号)

    • MOSI(主机输出从机输入)

    • MISO(从机输出主机输入)

    • CS(片选信号)

    • VCC(电源)、GND(接地)

    • SPI 接口主要信号

  • 引脚对应:根据 SDNAND 的 datasheet 确认各信号引脚,避免接错。

2. 逻辑分析仪探针连接

  • 连接方式

    • 时钟线(SCLK)→ 逻辑分析仪通道 0

    • 数据线(MOSI/MISO)→ 通道 1 / 通道 2

    • 片选线(CS)→ 通道 3

    • 接地探针务必连接到电路板的 GND(避免信号参考误差)。

    • 使用逻辑分析仪的探头(通常为夹式或钩式)分别连接 SDNAND 的信号引脚:

  • 注意事项

    • 探针引线尽量短,减少信号干扰;若高频信号(如 SDIO),建议使用同轴探针。

    • 确认逻辑分析仪的电源供电与 SDNAND 系统隔离,避免电源串扰。

二、逻辑分析仪参数配置

1. 采样率与存储深度设置

  • 采样率:至少设置为 SDNAND 最高工作频率的 5-10 倍(如 SPI 时钟 10MHz,采样率≥50MHz),避免欠采样导致波形失真。

  • 存储深度:根据捕获时长调整,例如需要捕获 10ms 数据,采样率 100MHz 时,存储深度需≥1000000 点(1MB)。

2. 通道与逻辑电平配置

  • 通道启用:仅启用连接信号的通道(如 SPI 用 4 通道),未使用通道可设为 “禁用” 以减少干扰。

  • 逻辑电平标准

    • 根据 SDNAND 工作电压设置(如 3.3V、1.8V 或 1.2V),逻辑分析仪的阈值电压需匹配(例:3.3V 系统设为 1.65V)。

    • 若电平不匹配,可能导致信号识别错误(如高电平被误判为低电平)。

3. 协议解码设置(可选)

  • 若逻辑分析仪支持协议解码(如 SPI、SDIO),可在软件中选择对应协议:

    • 配置时钟极性(CPOL)、时钟相位(CPHA)等参数(SPI 模式 0 或 3 常见)。

    • 解码后可直接查看数据帧结构(如命令、地址、数据),便于分析时序问题。

三、触发条件设置

1. 触发类型选择

  • 边沿触发:适用于捕获特定信号的跳变(如 CS 信号的下降沿表示通信开始)。

  • 组合触发:设置多个信号的逻辑组合(如 CS=0 且 SCLK 上升沿时触发),精准捕获目标帧。

  • 数据触发:若已知特定数据帧(如读取命令 0x03),可设置触发条件为 MOSI 通道出现该数据。

2. 触发位置调整

  • 设置触发点在存储深度中的位置(如 “触发后捕获” 或 “触发前后平均捕获”),确保能观察到触发前后的完整时序。

四、数据捕获与波形分析

1. 启动捕获并观察波形

  • 触发后,逻辑分析仪会记录信号时序,可在软件界面查看:

    • 时钟信号(SCLK):观察频率是否稳定,有无抖动或异常跳变。

    • 片选信号(CS):确认片选有效期间数据传输是否连续,有无中途失能(可能导致丢帧)。

    • 数据信号(MOSI/MISO):查看数据位与时钟的时序关系(建立时间 / 保持时间是否符合规范)。

2. 时序分析与异常排查

  • 正常时序参考(以 SPI 读操作为例):

    1. CS 拉低→发送读命令→地址→等待数据→MISO 输出数据。

    2. 数据位应在 SCLK 的上升沿或下降沿稳定传输(根据 SPI 模式)。

  • 常见异常现象

    • 时钟周期突然变长或变短→可能是主控芯片负载过高或时钟源不稳定。

    • 数据位出现毛刺或电平跳变异常→可能是硬件干扰(如接地不良)或电平匹配问题。

    • CS 信号在数据传输中意外拉高→可能是软件时序错误或硬件接触不良。

3. 协议解码与数据帧检查

  • 通过协议解码功能,查看完整数据帧是否正确:

    • 命令帧是否正确(如读操作 0x03,写操作 0x02)。

    • 地址是否连续,数据是否与预期一致(对比理论传输数据与实际捕获数据)。

    • 若出现丢帧,检查是否在某帧后数据传输中断(如 CS 拉高后未重新启动传输)。

五、注意事项与常见问题解决

1. 硬件层面

  • 确保逻辑分析仪与 SDNAND 共地,避免地电位差导致信号偏移。

  • 若信号噪声大,可尝试在电源端加滤波电容(如 10μF+0.1μF),或使用屏蔽线连接探针。

2. 设置层面

  • 采样率不足会导致波形 “阶梯化”,需提高采样率或降低 SDNAND 工作频率验证。

  • 触发条件设置过严可能无法捕获波形,可先使用简单触发(如 CS 下降沿),再逐步细化条件。

3. 对比测试

  • 对比正常工作状态与异常状态的波形,重点关注时序差异(如时钟抖动、数据延迟)。

  • 若怀疑 SDNAND 芯片问题,可替换芯片后重复测试,观察波形是否一致。

六、典型波形分析示例(SPI 接口)

信号正常波形特征异常波形特征可能原因
SCLK周期稳定,边沿陡峭,无杂波频率波动大,边沿模糊时钟源晶振故障或负载过重
CS低电平期间连续有效,无中途跳变传输中突然拉高软件时序错误或硬件误触发
MISO(读数据)数据位与 SCLK 时序匹配,无丢位数据位缺失或错乱硬件干扰或 SPI 模式不匹配

通过以上步骤,可利用逻辑分析仪精准捕获 SDNAND 的时序波形,定位丢帧问题是否由硬件时序异常(如时钟抖动、信号干扰)或软件协议错误(如命令帧缺失、时序不匹配)导致。

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