| 操作 | 单位 | 特性 | 说明 |
|---|---|---|---|
| ① 擦除 (Erase) | 块 (Block) | 0 → 1 | 擦除后所有位变为 1 (0xFF) |
| ② 写入/编程 (Program) | 页 (Page) | 1 → 0 | 只能将 1 翻转为 0,不能反向 |
| ③ 读取 (Read) | 页 (Page) | 非破坏性 | 可反复读取,不改变数据状态 |
读操作详解(您提到的第③点)
读操作特性:
读取单位:按 页 (Page) 为单位读取(通常 4KB、8KB、16KB)
非破坏性:读取不会改变存储单元中的电荷状态,数据保持不变
读取速度:随机读取约 25μs,顺序读取可低至 25ns
读取原理:通过检测浮栅晶体管上的电荷状态,判断存储单元是导通还是截止,从而确定存储的是 0 还是 1
核心物理特性
┌─────────────────────────────────────────────────────────┐ │ 存储单元:浮栅极 MOSFET (Floating Gate Transistor) │ │ 数据存储原理:通过向浮栅注入/移出电子改变阈值电压 │ │ - 编程(写0):向浮栅注入电子 │ │ - 擦除(写1):移除浮栅上的电子 │ └─────────────────────────────────────────────────────────┘
典型性能参数
| 参数 | 典型值 |
|---|---|
| 页大小 | 2KB ~ 16KB |
| 块大小 | 128KB ~ 512KB (含64~256页) |
| 页编程时间 | ~200μs |
| 块擦除时间 | ~1.5ms |
| 数据保持 | 10年以上 |
| 擦写寿命 | 约 100,000 次 |
重要注意事项
写入前必须先擦除:由于只能 1→0,写新数据前必须先将块擦除为全1
磨损均衡:需要算法分散擦写操作,避免某些块过早损坏
坏块管理:出厂和使用中可能产生坏块,需要标记和规避
ECC校验:需要纠错码保证数据可靠性
上一篇:SDNAND的扇区是多少字节
下一篇:没有了!
电话:176-6539-0767
Q Q:135-0379-986
邮箱:xcz@xczmemory.cn
地址:深圳市南山区后海大道1021号C座