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SDNANDFLASH特性

SD NAND-贴片式TF卡-贴片式SD卡-免费测试2026-03-2610

 NAND Flash 三大基本操作

操作单位特性说明
① 擦除 (Erase)块 (Block)0 → 1擦除后所有位变为 1 (0xFF)
② 写入/编程 (Program)页 (Page)1 → 0只能将 1 翻转为 0,不能反向
③ 读取 (Read)页 (Page)非破坏性可反复读取,不改变数据状态

读操作详解(您提到的第③点)

读操作特性:

读取单位:按 页 (Page) 为单位读取(通常 4KB、8KB、16KB)

非破坏性:读取不会改变存储单元中的电荷状态,数据保持不变

读取速度:随机读取约 25μs,顺序读取可低至 25ns

读取原理:通过检测浮栅晶体管上的电荷状态,判断存储单元是导通还是截止,从而确定存储的是 0 还是 1

核心物理特性

┌─────────────────────────────────────────────────────────┐ │  存储单元:浮栅极 MOSFET (Floating Gate Transistor)      │ │  数据存储原理:通过向浮栅注入/移出电子改变阈值电压        │ │  - 编程(写0):向浮栅注入电子                             │ │  - 擦除(写1):移除浮栅上的电子                           │ └─────────────────────────────────────────────────────────┘

典型性能参数

参数典型值
页大小2KB ~ 16KB
块大小128KB ~ 512KB (含64~256页)
页编程时间~200μs
块擦除时间~1.5ms
数据保持10年以上
擦写寿命约 100,000 次

重要注意事项

写入前必须先擦除:由于只能 1→0,写新数据前必须先将块擦除为全1

磨损均衡:需要算法分散擦写操作,避免某些块过早损坏

坏块管理:出厂和使用中可能产生坏块,需要标记和规避

ECC校验:需要纠错码保证数据可靠性

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