SD NAND(集成了 NAND 闪存芯片和控制器的小型存储设备)的 “读”“写” 操作本质是与主机(如 MCU、处理器)的 “数据交互”,其工作原理与 NAND 闪存的物理特性紧密相关,核心围绕 “电荷存储” 和 “地址寻址” 展开。下面从 “读写触发场景”“工作原理”“擦除与写入的关系” 三个维度详细说明:
SD NAND 的 “读”“写” 由主机(Host)发送的指令触发,具体场景取决于主机对数据的需求:
当主机需要调用 SD NAND 中已存储的数据时,会发送 “读取指令”,例如:
简单说:“主机需要获取 SD NAND 中已有的数据” 时,触发读取操作。
当主机需要将新数据保存到 SD NAND 中时,会发送 “写入指令”,例如:
简单说:“主机需要将新数据保存到 SD NAND 中” 时,触发写入操作。
SD NAND 的核心是NAND 闪存芯片(存储数据)和控制器(管理读写、坏块、磨损均衡等),其工作原理依赖于 “浮栅晶体管” 的电荷存储特性,以及 “页 / 块” 的分层寻址结构。
NAND 闪存的最小存储单元是 “浮栅晶体管”,其核心是一个 “浮栅”(悬浮在绝缘层中的导电层)和 “控制栅”(用于控制电荷注入 / 释放):
NAND 闪存的存储单元不是零散分布的,而是按 “块(Block)- 页(Page)” 分层组织(类似 “书本 - 书页” 的结构):
SD NAND 的控制器会对这些块和页进行 “逻辑地址(LBA)” 映射(类似硬盘的 “C 盘 / D 盘” 分区,屏蔽物理地址的复杂性),主机只需通过逻辑地址调用数据,无需关心具体物理位置。
当主机发送 “读取指令 + 目标逻辑地址” 后,SD NAND 的控制器执行以下步骤:
核心:读取是 “被动检测电荷状态”,不改变浮栅中的电荷,因此读取操作不消耗擦写寿命。
写入是 “主动修改电荷状态”,但受 NAND 闪存的物理特性限制:不能直接覆盖已有数据,必须先擦除 “目标块” 的电荷,再写入新数据。具体流程:
核心:写入的前提是 “先擦除块”(因为浮栅中的电荷不能直接 “改写”,只能 “先清空再注入”),因此每一次写入(涉及新块的擦除)都会消耗该块的 P/E 寿命。
这是由 NAND 闪存的物理特性决定的:
操作 | 触发条件 | 核心原理 | 关键限制 |
---|---|---|---|
读取 | 主机需要调用已存数据 | 检测浮栅电荷状态,转换为二进制数据 | 不改变电荷,不消耗寿命 |
写入 | 主机需要保存新数据 | 先擦除块(释放电荷),再注入新电荷 | 必须按 “块擦除→页写入” 执行, |
SD NAND 的控制器会自动处理 “地址映射、坏块跳过、磨损均衡” 等底层操作,主机只需通过简单指令(如 SPI 协议的 “读命令
0x03”“写命令 0x02”)即可完成交互,无需关心物理层的复杂流程。这种 “集成化设计”(闪存 + 控制器)正是 SD NAND
适合嵌入式场景(如轨道交通、工业控制)的核心优势 —— 小体积、低功耗、易集成,同时保证数据读写的可靠性。